材料物理 李志林 简答题答案

发布 2019-06-06 06:02:40 阅读 7759

一、材料的电子理论。

1、 说明自由电子近似的基本假设。在该假设下,自由电子在一维金属晶体中如何分布?电子的波长、能量各如何分布?

自由电子近似假设:自由电子在金属内受到一个均匀势场的作用,使电子保持在金属内部,金属中的价电子是完全自由的;自由电子的状态不符合麦克斯韦-波尔兹曼统计规律,但服从费米-狄拉克的量子统计规律。 分布:

电子的势能在整个长度l内都一样,当0=l时u(x)= 以此建立一维势阱模型。一维势阱中自由电子运动状态满足的薛定谔方程为,在一维晶体中的解(归一化的波函数)为:(l为晶体长度)。

在长度l内的金属丝中某处找到电子的几率为| |2= *与位置x无关,即在某处找到电子的几率相等,电子在金属中呈均匀分布。 自由电子的能量: (n……电子波长:

λ=近自由电子近似基本假设:点阵完整,晶体无穷大,不考虑表面效应;不考虑离子热运动对电子运动的影响;每个电子独立的在离子势场中运动,不考虑电子间的相互作用;周期势场随空间位置的变化较小,可当作微扰处理。 电子在一维周期势场中的运动薛定谔方程:

,方程的解为。自由电子近似下的e-k关系有: ,为抛物线。

在近自由电子近似下,对应于许多k值,这种关系仍然成立;但对于另一些k值,能量e与这种平方关系相差许多。在某些k值,能量e发生突变,即在k=处能量e=en|un|不再是准连续的。近自由电子近似下有些能量是允许电子占据的,称为允带;另外一些能量范围是禁止电子占据的,称为禁带。

2、 何为k空间?k空间中的(2,2,2)和(1,1,3)两点哪个代表的能级能量高?

k空间:取波数矢量k为单位矢量建立一个坐标系统,他在正交坐标系的投影分别为kx、ky、kz,这样建立的空间称为k空间。

22+22+2212+12+32,故(2,2,2)比(1,1,3)高。

3、 何谓状态密度?三维晶体中自由电子的状态密度与电子能量是何种关系?

状态密度:自由电子的能级密度亦称为状态密度,即单位能量范围内所容纳的自由电子数。 关系:

三维,能级为e及其以下的能级状态总数为z(e)=c,式中c=为常数,即能级密度与e的平方根成正比;二维的z(e)为常数;一维的能级密度z(e)与e的平方根成反比。

4、 用公式= 解释自由电子在0k和tk时的能量分布,并说明t改变时该能量分布如何变化。

分布:当t=0k时,若e>ef,则f(e)=0,若e f,则f(e)=1。当t>0k时,一般有efkt,当e=ef,则f(e)= 若eef,则当eef时,f(e)=0;当e-ef5、 说明的物理意义。

为什么讨论电子能量分布时不考虑和ef的区别?

为0k时的费米能,物理意义:绝对零度下,晶体中基态系统中被电子占据的最高能级的能量。 ,ef比略低,但由于一般efkt,实际降低值在10-5数量级,故可以忽略。

6、 为什么温度升高,费米能反而降低? p12

当温度升高时,因为kt增大,有更多的电子跳到ef能级以上,且电子的最高能量更高,这些电子的能量升高是金属电子热容的**。

7、 在布里渊区边界上电子的能量有何特点? p17-18

在接近布里渊区边界时电子受周期性势场的影响显著,等能线向外凸出,比自由电子的小,在这个方向从一条等能线到另一条等能线的k增量比自由电子的大。

8、 画图说明导体、半导体、绝缘体能带结构的异同。 p21

9、 画出自由电子近似和近自由电子近似下的e-k曲线,并说明他们的区别,解释能带的概念。 p15 另见第一题后部分。

近自由电子近似下有些能量是允许电子占据的,称为允带;另外一些能量范围是禁止电子占据的,称为禁带。

二、材料的晶体形态。

1、 什么是点阵参数(晶格常数)?正方晶系和立方晶系的空间点阵特征是什么?

晶胞的三个棱边长abc和晶轴xyz间的夹角。 正方晶系:a=bc,==90°(如-sn,ti2o) 立方晶系:a=b=c,==90°(如fe,cr,cu,ag,au)

2、 三种典型晶胞,符号,原子数,配位数,致密度。

面心立方:fcc,4,12,74%。体心立方:bcc,2,8,68%。密排六方:hcp,6,12,74%。

3、 从非晶体和晶体的x射线衍射特征的区别解释其结构的区别。(自己组织语言)

大体内容:晶体的x射线衍射强度在特定角度出现数个尖锐的衍射峰,即在满足布拉格条件2dsin=的角度有强衍射峰。非晶体不会在特定角度产生满足布拉格条件的衍射峰,产生的衍射峰较宽,且其衍射强度比晶体的最强衍射峰弱得多。

从x射线衍射区别可见晶体是长程有序结构,而非晶体是长程无序、短程有序结构。

4、 简述薄膜形核的过程和长大的过程。(自己组织语言)

形核:一般是气相原子在基底的表面聚集而成,包括吸附、凝结、临界核形成、稳定核形成等过程。入射到基体表面的气相原子被悬挂键吸引住,发生物理吸附或化学吸附,表面能降低,吸附后的原子仍可发生解吸。

吸附的原子不能在基底表面稳定存在,自发形成固态的薄膜。吸附后的原子在基体表面具有水平方向的动能,使其在不同方向上进行扩散,单个原子间通过相互碰撞,凝结成原子对和更大的原子团。在满足一定热力学条件下,先生成临界核,在此基础上加一个原子就可变为稳定核。

长大:指形成稳定核后薄膜的形成过程,一般经历岛状、连并、沟道、连续膜四个阶段。分散在基底表面的大量晶核长大,直至相互接触并逐渐布满整个基底表面形成连续薄膜。

5、 为何从球冠形晶核模型推导出的临界晶核半径与实际偏差很大?更符合实际的模型是什么样的?(自己组织语言)

原因:薄膜实际形核时临界核很小,不能形成球冠的形状,宏观的表面能、界面能、体积自由能的统计数据在此处不再有意义。 模型:

原子聚集理论。把原子团看成宏观分子,研究原子团内的键合和结合能与临界核形状、大小和成核速率的关系。可以认为在基板温度很低时,单个原子就是临界核,随基板温度的升高,临界核逐渐增大,在临界核基础上原子团再加一个原子就可变为稳定核。

假设原子结合到原子集团后其势能降低,降低值就是其在原子集团中的键能,基于该假设,可推到出二维或三维原子集团的形核速率。此模型在许多实验条件下都适用。

6、 什么叫临界晶核? 长大和缩小均使体系自由能降低的晶核称为临界核。

长大时使体系的自由能降低的晶核称为稳定核。

7、 薄膜的组织(晶态)结构有几种形态?各有什么特点?

晶态结构有无定形、多晶、织构、单晶等几种形态。

无定形(非晶态):降低基体温度可降低吸附原子的表面扩散速率,有利于形成非晶态;提高沉积速率使表面吸附原子来不及充分扩散排成晶体,也有利于形成非晶态;引入反应气体可生成氧化层,阻挡晶粒生长;加入掺杂元素使原子排列易发生混乱,有利于形成非晶。 多晶:

取向不同的多个小晶体形成的晶体;晶粒通常是取向随机;多晶材料可表现出伪各向同性;出现一些亚稳态相结构。 织构:晶粒取向非随机,择优取向。

单晶:晶体结构和取向一致。

8、 薄膜的晶态结构与体材料有区别吗?如果有,是怎样的区别?

多数情况下薄膜中晶粒的晶体结构与体材料相同,但其晶格常数有变化。晶格常数变化原因是薄膜中有较大的内应力和表面张力。晶粒越小,点阵常数变化越大。

由于微晶熔点总比块材低,因此薄膜熔点一般也比块材低。

9、 薄膜表面(晶粒)结构与温度关系。

在低温下,吸附原子的扩散速度低,成核少,少量晶核纵向生长,易长成锥状晶粒,结构不致密;温度升高,晶界变模糊,形成密排的致密纤维状晶粒结构,机械性能良好;温度再升高,形成完全致密的柱状晶;温度再升高,柱状晶粒长大并形成等轴晶,在不同厚度的薄膜上还形成新的晶体,不同厚度上有数层晶粒。

三、晶体缺陷。

1、 说明晶体缺陷的概念和分类方法,简述各种晶体缺陷的概念、特征及其对性能的影响概念:晶体缺陷是指晶体中偏离理想的完整结构的区域。

分类方法:按形成晶体缺陷的原子种类,可将晶体缺陷分成化学缺陷和点阵(几何)缺陷两类。 按点阵缺陷在三维空间的尺度,又可将点阵缺陷分为点缺陷、线缺陷、面缺陷三类。

a、点缺陷:是指在x、y、z方向上的尺寸都很小的点阵缺陷,包括空位和间隙原子。

特点:点缺陷是热力学平衡缺陷,即在平衡状态下也总以一定的浓度存在。

影响:(1)空位浓度升高,导体的电阻升高。(2)空位引起体积增加、密度减小。

(3)辐照损伤,即用电子、中字、质子、α粒子等高能粒子照射材料,在材料中导入大量空位和间隙原子,引起材料损伤。

b、线缺陷:线缺陷是指在两个方向上尺寸都很小,另一个方向相对很长的点缺陷,也叫一维缺陷,如位错。

特点:不论是何种位错,位错的滑移方向都是为错的法线方向。

影响:(1)位错的密度降低,位错数量减少,材料的屈服强度将降低。(2)由于位错附近自由能升高,位错消失可以导致自由能降低,因此位错附近可发生优先腐蚀。

(3)由于位错引起的局部点阵畸变也能引起传导电子的额外散射,也可能引起电阻升高。(4)位错导致扩散加速。

c、面缺陷:面缺陷是指在两个方向上尺寸很大,另一方向上尺寸很小的点缺,也叫二维缺陷。

特点:不论是何种位错,位错的滑移方向都是位错的法线方向,滑移的结果都是在晶体表面形成宽度为b的台阶。

影响:(1)堆垛层错使材料的自由能有些增加,但本身几乎不产生畸变,对材料的性能影响不大。(2)外表面对材料性能的影响在于很难获得清洁的表面。

(3)相界面是新相的形核的优先位置,相界面常常是最优先腐蚀的位置。对普通材料而言,它会使材料的强度增加,原因是它增大了位错运动的阻力。

2、 空位形成浓度依据什么原理测定?用什么方法测定?

原理:由cv=exp(+)aexp 可知,只要测出不同温度下得lncv-曲线,就可以得到空位形成能ef(曲线斜率)。

方法:(1)西蒙斯—巴卢菲法;(2)正电子湮没法;(3)急冷试验。

3、 点缺陷对性能有什么影响?

1)空位浓度升高,导体的电阻升高。(2)空位引起体积增加、密度减小。(3)辐照损伤,即用电子、中字、质子、α粒子等高能粒子照射材料,在材料中导入大量空位和间隙原子,引起材料损伤。

4、 比较刃型位错、螺型位错、和混合型位错的滑移异同。

相同点:不论是何种位错,位错的滑移方向都是位错的法线方向,滑移的结果都是在晶体表面形成宽度为b的台阶。